（淮南低濕型恒溫恒濕試驗(yàn)箱（低濕度溫濕度試驗(yàn)箱））

　　什么是低濕型恒溫恒濕試驗(yàn)箱，所謂得低濕型恒溫恒濕試驗(yàn)箱，是在標(biāo)準(zhǔn)濕度的要求下，做更高要求的濕度標(biāo)準(zhǔn)。一般型的濕度范圍為20%~98%，低濕型的濕度范圍為10%~98%。如需要更高要求，可以定制5~98%得濕度標(biāo)準(zhǔn)。

　　低濕型恒溫恒濕試驗(yàn)箱規(guī)格參數(shù)：

　　1.溫度范圍：A:0~+150℃/B:-20~+150℃/C:-40~+150℃/D:-60~+150℃/-70~+150℃

　　2.控制穩(wěn)定度：±0.5℃

　　3.分布均勻度：±2℃

　　4.溫度解析精度：0.01℃

　　5.升溫時間：+20℃~+150℃小于45分鐘非線性空載。

　　6.降溫時間：+20~0℃小于30分鐘/+20~-20℃小于45分鐘/+20~-40℃小于60分鐘/+20~-60℃小于90分鐘/+20~-70℃小于100分鐘非線性空載。

　　7.濕度范圍：低濕型：10％~98％RH；（可定制：5％~98％RH）

　　8.濕度均勻度：≤±3%R.H（+2、-3%RH）

　　低濕型恒溫恒濕試驗(yàn)箱試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

　　GJB150.3-2009高溫試驗(yàn)

　　GJB150.4-2009低溫試驗(yàn)

　　GB/T-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

　　GB/T-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

　　GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫（IEC-2-1:2007,IDT）;

　　GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：低溫（IEC-2-1:2007,IDT）；

　　GB/T2423.3-2016環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab恒定濕熱試驗(yàn)（IEC-2-78:2012,IDT）;

　　GB/T2423.4-2008環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab交變濕熱（12h+12h循環(huán)（IEC-2-30:2005,IDT）;

　　GB/T2423.22-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化（IEC-2-14:2009，IDT）；

　　GJB150.3-86**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分高溫試驗(yàn)；

　　GJB/T150.4-86**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分低溫試驗(yàn)；

　　GJB/T150.9-86**設(shè)備環(huán)境曬云方法第8部分濕熱試驗(yàn)

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